公司新闻
检测需求：对面板的芯片和基板封装后进行边缘缺陷检测
对焦精度：＜1μm
跟焦速度：＜30ms
检测方式：线激光对焦光学系统明暗场检测
通过环形光源的明暗场照明方式，明场照明模式，通过垂直均匀光照呈现样本形态，检测面板外观良好；通过暗场照明方式激发散射光成像，显著增强样品微小颗粒与表面细节对比度，适用于裂纹、划痕等缺陷。
图：慕藤光红外对焦成像解决方案原理
物镜：5X物镜
相机：彩色相机
光源：明暗场环形光源
扫描速度：120mm/s
图：慕藤光激光自动对焦明暗场解决方案-面板边缘缺陷检测应用
图：面板边缘外弧-暗场检测测效果图
图：面板孔区裂痕-明场检测效果图
检测需求：识别并检测缺陷的Mini LED芯片
样品：Mini LED芯片
离焦距离：100-200um
对焦时间：1-1.5s
慕藤光图像对焦检测是建立在图像AI算法模式上的调焦方法，能够对镜头与传感器采集的图像进行实时分析和处理，进而控制运动轴进行移动完成聚焦，覆盖±150um至±1mm大搜索范围，实现大范围内的快速对焦检测。
图：慕藤光图像对焦检测原理
相机：CameraLink工业相机
镜头：MF200-C-S
物镜：MA-10F (20X)
图像对焦传感器：MIAF-500
光源：MV-IW
图像格式：2432*2048
图：Mini LED晶圆缺陷芯片检测
OLED柔性面板生产中，屏幕高度不一致时需要对焦
针对面板屏幕高度存在差异的情况，依据图像对焦原理中对物体距离建模及成像焦点计算机制，慕藤光图像对焦传感器MIAF-500可在1-2s内对传感器采集的图像进行实时分析，快速响应，解决±150um范围的精准调节对焦，进而精准检测屏幕显示均匀度。
图：OLED面板均匀度修复-慕藤光图像对焦视觉方案
图：OLED柔性面板均匀度检测图
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