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微分干涉(DIC)成像光学系统

微分干涉(DIC)成像光学系统

微分干涉成像是慕藤光智能成像光学系统四大检测方式之一,利用偏振光干涉原理,以纳米级精度解析表面形貌观测。

产品特点:
1.强立体感
2.减少瑕疵
3.丰富细节。

未开启DIC
开启DIC
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